-美國(guó)時(shí)間TEM透射電鏡機(jī)殼搭建，減震平臺(tái)移入-設(shè)備捆包裝卸-電鏡檢測(cè)出租-2021年3月5日-賽默飛世爾科技，科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域宣布推出Thermo Scientific Spectra Ultra，全新一代掃描透射電子顯微鏡（S）TEM，能夠在原子尺度上地洞悉各種材料的微觀與化學(xué)結(jié)構(gòu)。相比于傳統(tǒng)電鏡數(shù)小時(shí)的穩(wěn)定時(shí)間，全新的Spectra Ultra在數(shù)分鐘內(nèi)即可靈活優(yōu)化高級(jí)成像和分析條件。??半?導(dǎo)?體?設(shè)?備?搬?運(yùn)?出于加快材料研究進(jìn)程以及高通量的需求，用戶(hù)現(xiàn)在甚至可以以非?？斓乃俣确€(wěn)定地調(diào)節(jié)加速電壓。這擴(kuò)展了研究的樣品范圍，減少了電子束損傷，并顯著降低了工具的優(yōu)化耗時(shí)。Spectra Ultra配備了全新的能量色散X射線(xiàn)（EDX）分析系統(tǒng)Thermo Scientific Ultra-X，它具有目前在商業(yè)化（S）TEM中具有檢測(cè)器面積。結(jié)合全新的物鏡設(shè)計(jì)，Thermo Scientific Ultra-X的X射線(xiàn)收集速度是目前市售解決方案的兩倍，從而能夠分析對(duì)電子束更敏感的材料和樣品，??半?導(dǎo)?體?設(shè)?備?搬?運(yùn)?即使這些樣品中以前因含量太低而完全無(wú)法檢測(cè)到的痕量元素也能夠很好地表征出來(lái)。Spectra Ultra在Thermo Scientific Themis和Spectra平臺(tái)的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步降低了系統(tǒng)的復(fù)雜性，幾乎所有用戶(hù)都可以用它獲得高質(zhì)量高分辨率的數(shù)據(jù)。“配置了Ultra-X的Spectra Ultra改變了材料科學(xué)研究人員和半導(dǎo)體從業(yè)者的游戲規(guī)則。它可以通過(guò)迅速施加不同的加速電壓來(lái)顯著減少電子束損傷，并且用戶(hù)將能夠檢測(cè)濃度的輕元素?！辟惸w世爾材料科學(xué)副總裁Rosy Lee說(shuō)，“此外，與其他商業(yè)化解決方案相比，用戶(hù)可以以更高的分辨率快速成像快速分析，以研究新材料和改進(jìn)現(xiàn)有材料。”半導(dǎo)體副總裁Glyn Davies表示：“隨著半導(dǎo)體制造商接近當(dāng)前工藝技術(shù)的物理極限，??半?導(dǎo)?體?設(shè)?備?搬?運(yùn)?正在逐步擴(kuò)大元素周期表中元素的使用范圍，以期找到能夠提供新興應(yīng)用所需的功率、效率和性能的解決方案。Spectra Ultra提供了業(yè)界（S）TEM分析和表征功能，可以幫助他們滿(mǎn)足對(duì)材料解決方案的需求。”??半?導(dǎo)?體?設(shè)?備?搬?運(yùn)?易于使用的Spectra Ultra使半導(dǎo)體研究人員能夠更快，更可靠地分析器件和結(jié)構(gòu)。Spectra Ultra擁有目前功能大的商業(yè)化EDX系統(tǒng)，并可以即時(shí)切換加速電壓，能夠促進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)上新的存儲(chǔ)器和邏輯設(shè)備的開(kāi)發(fā)。